高分辨 ICP-OES 助力分析釹鐵硼永磁材料

高分辨 ICP-OES 助力分析釹鐵硼永磁材料。為了能精準實施出口管制，釹鐵硼磁鐵中的相關稀土元素測試變得尤為重要。目前釹鐵硼中稀土及其他元素的檢 測標準有《XB/T 617.2-2014 釹鐵硼合金化學分析方法 第 2 部分：十五個稀土元素量的測定》，《釹鐵硼合金化學分析 方法第 3 部分：硼、鋁、銅、鈷、鎂、硅、鈣、釩、鉻、錳、鎳、鋅和鎵量的測定》。第一法為電感耦合等離子體發生 光譜法（ICP-OES）。 但由于稀土元素的原子具有未充滿的 4f 電子層和 4f 電子被外層的 5s5p 電子屏蔽的特性，使得稀土原子 具有有豐富的電子能級和長壽命激發態，能級躍遷通道多達 20 余萬個，可以產生多種多樣的輻射吸收和發射， 有著極為豐富的光譜譜線。同時釹鐵硼中另一個主要組分鐵元素的譜線也是非常豐富的。ICP 測試時的譜線干 擾十分嚴重。如 Sm 靈敏線 359.260nm 同時受到 Nd359.259nm 及 Fe359.267nm 的干擾，無法用于分析。 下圖為氧化釹的部分發射譜線及釹鐵硼樣品的部分發射譜線圖。可以看到樣品基體的光譜譜線極為豐富，如連 綿不絕的群山，給分析帶來極大的干擾。